最近同事做了块测试芯片的SOCKET板，发现一个问题总是解决不了，通过加班，我们终于发现了问题所在，并解决这个问题。

现象：图像异常，表现为灰阶图像中，某一阶上渗出紫色。

所试方法：换芯片，芯片引脚重新拖锡了一遍（防止LVDS虚焊或短路），均没有作用。

这时手按到板子的LVDS测试口上，发现图像会有变化，渗色会变弱，再用探头或者万用表点测试点也会有影响。

反过来检查PCB，发现LVDS的E0+/-，E1+/-作为IIS复用了，其在测试点外连到了很远的排阻上，尽管排阻没有装上，但是这样的走线，改变了LVDS差分线的阻抗。

由于差分信号频率较高，LVCLK＝45MHz，阻抗不匹配影响了影响的完整性。故对图像质量影响较大。

解决方法，较这四根信号线在测试点处切断，问题解决。

建议

1、LVDS接口尽量不要用作其他用途；
2、LVDS走线要做100OHM阻抗匹配，且走线尽量短，走线尽量直线，不允许的直角出现，保持阻抗的连续性，避免有过孔出现；
3、LVDS差分线与地的间距要尽量大，减小差模寄生电容。

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